HC2661型手持式四探針測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數據的統計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現場測試要求。

差示掃描量熱儀測試儀器 HCCS-3000差示掃描量熱儀是我公司自主研制的熱分析儀系列產品主要面向工業用戶、科研與教學，廣泛應用于各類材料與化學領域的新品研發，工藝優化與質檢質控等。主要測量與熱量有關的物理和化學的變化，如物質的熔點熔化熱、結晶點結晶熱、相變反應熱、玻璃化轉變溫度、熱穩定性（氧化誘導期）等。