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      華測HC系列多功能材料電學綜合測試系統通過阻抗分析儀、高阻計配合高低溫測試裝置,能夠準確地測量高分子材料介電常數及介質損耗以及在高低溫條件下的介電溫譜及介電頻譜等參數,也具有較寬的阻抗分析范圍(10mΩ~100TΩ)
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      它不僅決定了壓電材料的,同時也直接影響著換能器的參數。由于同一批材料的壓電陶瓷參數具有很大的離散度,故測量壓電陶瓷的d33是很有必要的。影響d33測試準確度和穩定性的因素有很多,主要考慮以下因素:壓力是否全部加于試樣,壓力的方向是否與試樣極化軸平行,測試電極是否平整和相互平行,受力和產生感應電效應的面積是否相等,壓力釋放瞬間是否有試樣抖動等。北京華測d33壓電系數測試儀器
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      華測儀器通過多年研究開發了一種高反射率的拋物面與高質量的加熱源相配置,在高速加熱高速冷卻時,具有良好的溫度分布??蓪崿F寬域均熱區,高速加熱、高速冷卻,用石英管保護加熱式樣,無氣氛污染。同高頻爐相比,不需特殊的安裝條件及對加熱試樣的要求。同電阻爐一樣安裝簡單,有冷卻系統可靠。華測高速加熱冷卻管式爐馬弗爐測試儀器廠家
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      HCTZ-2S華測儀器-四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統計分析顯示測試結果。
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