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    Huace-8D 雙面探針臺

    簡要描述:Huace-8D 雙面探針臺可用于晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。

    • 產品型號:
    • 廠商性質:生產廠家
    • 更新時間:2024-02-20
    • 訪  問  量:445

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    Product Category

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    詳細介紹

    品牌北京華測產地類別國產
    應用領域化工,能源,電子,電氣,綜合

    Huace-8D 雙面探針臺


    雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優良的機械系統,穩定的結構,符合人體工程學,以及多項升級功能??蓮V泛應用于集成電路、Wafer , LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。


    技術參數型號

    Huace-8D雙面探針臺

    臺體

    chuck尺寸

    8英寸

    平旋轉

    卡盤可以360度旋轉,細調精度不大于0.1度,帶有鎖定旋鈕

    XY移動行程

    8英寸*8英寸

    XY移動精度

    10um/1um可選

    樣品固定

    樣品夾定,尺寸可調;真空吸附固定,卡盤多圈吸附環可獨立控制

    雙面點針平臺

    氣動升降平臺升起為雙平臺,落下可做單平臺使用

    平臺針座數量

    單平臺最多放置8個CB-200針座

    卡盤結構

    普通/高溫/帶背電極等結構卡可選擇

    溫控系統

    溫度范圍

    室溫~300℃ (400℃,500℃可選)

    溫控精度

    0.1℃

    溫控穩定性

    ±1℃

    溫控傳感器

    100Ω 鉑電阻傳感器

    正面光學系統

    CCD

    200W/500W/1200W像素可選(正反面)

    顯微鏡類型

    單筒/體視/金相顯微鏡可選

    放大倍率

    16X-100X/20X-2000X

    顯微鏡調節

    水平方向繞立柱旋轉X-Y移動2*2英寸,Z軸行程50.8mm

    光源

    外置LED環形光源/同軸光源

    背面光學系統

    顯微鏡類型

    L型單筒顯微鏡

    連續變倍比

    6.3:1

    放大倍率范圍

    0.75–5X

    放大倍率

    315X(計算公式:變焦*CCD*顯示器)

    顯微鏡調節

    萬向移動

    光源

    同軸光源

    技術參數型號

    臺體配件技術參數

    探針座

    X-Y-Z移動行程

    12*12*12mm

    移動精度

    10/2/0.7/0.5/0.35um可選

    固定方式

    磁力吸附/真空吸附可選

    探針夾具

    線纜

    同軸線/三軸線可

    漏電精度

    10pA/100fA

    探針固定方式

    彈簧固定/管狀固定

    接頭類型

    BNC/三同軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子等可選

    探針

    材質

    鎢鋼/鈹銅可選

    針尖直徑

    0.2/1/2/5/10/20/50/100um可選

    探針可選配件

    屏蔽箱

    高壓測試配件

    光學防震桌

    射頻測試配件

    鍍金卡盤

    轉接頭

    探針卡夾具

    其他


    公司專注于絕緣材料與xianjin功能新材料電性能檢測以及材料電學測控設備研發與制造,先后成為華為、中興、國家電網、航天工業等合格供應商。我們不僅具備自營進出口權,獲得了多項軟件著作權和實用新型zl等知識產權,并順利通過了ISO9001的質量管理體系認證,更在測試測量行業積累了豐富的產品新產品研發、系統集成開發經驗。公司擁有功能材料、電氣絕緣材料兩個電學試驗室;涉及材料測試儀器、器件的放大、調理、采集、控制;傳感器性能綜合評價等相關儀器。


    公司主營產品:

    幾大系列:*功能材料電學綜合測試系統、絕緣診斷測試系統、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學性能綜合測試平臺、電擊穿強度試驗儀、耐電弧試驗儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗儀、儲能材料電學測控系統、壓電傳感器測控系統。


    Huace-8D 雙面探針臺















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