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熱激勵去極化電流測量系統，高壓極化電源，高壓極化裝置，高溫電阻率測試儀，高溫介電溫譜測試儀，電痕化指數試驗儀，耐電弧試驗儀，高溫冷熱臺，熱釋電試驗儀，電弱點試驗儀，鐵電分析儀，
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半導體參數測試儀與MM探針臺/系統集成
更新時間：
2023-08-28
型號：
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1609
半導體參數測試儀與MM探針臺/系統集成支持二極管、三極管、MOS管等半導體器件以及材料的直流電流-電壓（I-V）測量，準靜態和中頻電容-電壓（C-V）測量，時域測量等。
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