絕緣電阻劣化離子遷移評估系統/電路板測試

面對電子產品越來越小型輕量及高密度封裝，華測絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯動，適用標準：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

測試步驟：

一、從整盤線纜中截取樣品線10m（不小于10m，測量誤差應不超過1%），然后打彎兩端剝開100mm放在水浴中，留在水外面的兩端長度應不小于250mm。

二、接上電源，打開設備。接上設備的兩根測試線，一根為紅色的高壓端接線纜線芯的導體上作為測試的一極，另一根黑色的低端測試線接上一個導體放在水中作為測試的另一極。

三、根據試驗要求調節電壓檔旋鈕選擇需要的電壓。然后開始調節電阻檔旋鈕，在調節的過程中一邊調節一邊注意數碼管顯示的數值直到數值發生變化，停止調節電阻檔旋鈕，此時調節定時器為60s，然后啟動定時器并把測試旋鈕調到測試位置。此時就開始測試了，定時60s結束后儀器會自動結束測試，此時數碼管顯示的數值乘以電阻檔的調節旋鈕對應的數值就是所取樣品線的絕緣電阻值。

四、測試完畢后，應把測試旋鈕調到放電狀態，等1minutes中后取下樣品和測試線。

五、完成測試。

絕緣電阻劣化離子遷移評估系統/電路板測試

絕緣電阻劣化離子遷移評估系統/電路板測試