絕緣電阻劣化離子遷移評估系統/電路板測試配之以高溫高濕試驗箱聯動，可連續監測，高效簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。適用標準：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。

導通電阻評估系統 可靠性電路測試系統在低溫、高溫的溫度循環環境下，采用4端子測試法對焊點、連接器接點等導體進行多通道微小電阻連續測量，以評估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實時自動測量記錄數據，圖表化微小電阻變化及試驗箱溫度變化，可通過LAN進行數據處理

面對電子產品越來越小型輕量及絕緣電阻劣化離子遷移評估系統/PCB測試配之以高溫高濕試驗箱聯動，可連續監測，簡便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。